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為原位X射線衍射（XRD）設(shè)計(jì)：透射式光催化池如何實(shí)現(xiàn)光照下催化劑晶體結(jié)構(gòu)的實(shí)時(shí)追蹤？

透射式光催化池通過(guò)優(yōu)化光路設(shè)計(jì)與反應(yīng)環(huán)境控制，可實(shí)現(xiàn)光照下催化劑晶體結(jié)構(gòu)的實(shí)時(shí)追蹤，其核心設(shè)計(jì)思路如下：1.光路通透性優(yōu)化采用高透光率材料（如石英或特定聚合物）構(gòu)建反應(yīng)池主體，確保入射光（如紫外光、可見(jiàn)光）無(wú)衰減穿透至催化劑表面。光窗設(shè)計(jì)需兼顧透光率與化學(xué)惰性，例如選用特定薄膜材料作為光窗，既能承受反應(yīng)氣氛（如氧氣、二氧化碳）的腐蝕，又能最小化光散射。同時(shí)，優(yōu)化光路幾何結(jié)構(gòu)，使光源以特定角度入射，避免反射光干擾衍射信號(hào)采集。2.反應(yīng)環(huán)境精準(zhǔn)控制集成溫度、壓力、氣氛調(diào)節(jié)模塊，模...

安徽吸收譜儀器，如何用一臺(tái)臺(tái)式設(shè)備引爆400篇高水平研究？

在同步輻射光源曾是材料表征僅有的時(shí)代，將這等“大國(guó)重器”搬進(jìn)常規(guī)實(shí)驗(yàn)室，曾是無(wú)數(shù)科研團(tuán)隊(duì)的夢(mèng)想。如今，一家中國(guó)企業(yè)不僅實(shí)現(xiàn)了這一夢(mèng)想，更以此為基礎(chǔ)，催生了一場(chǎng)席卷學(xué)術(shù)期刊的科研風(fēng)暴。安徽吸收譜儀器設(shè)備有限公司，作為實(shí)驗(yàn)室級(jí)XAFS/XES技術(shù)的top，正式宣布：依托其RapidXAFS/XES系列臺(tái)式譜儀發(fā)表的高水平科研論文已突破400篇，并在國(guó)內(nèi)臺(tái)式占XAFS市場(chǎng)超50%。這不僅是商業(yè)上的成功，更展示了中國(guó)原創(chuàng)科學(xué)儀器在國(guó)際科研舞臺(tái)上的風(fēng)采。技術(shù)落地：我們的儀器，具體能做什...

X射線吸收譜儀的“能量解碼”：從同步輻射光源到單色化系統(tǒng)的全鏈路解析

X射線吸收譜的核心在于精確測(cè)量材料對(duì)X射線的吸收系數(shù)隨光子能量的變化，從而解碼出元素的原子種類、化學(xué)價(jià)態(tài)與局域結(jié)構(gòu)信息。這一“能量解碼”任務(wù)的成功，極度依賴于從源頭到單色化的全鏈路精密控制。1.同步輻射光源：高強(qiáng)度與寬譜的起點(diǎn)同步輻射光源是XAS測(cè)量的理想光源。其產(chǎn)生的X射線具有強(qiáng)度高、準(zhǔn)直性好、能量連續(xù)可調(diào)的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。高強(qiáng)度確保了在稀薄樣品或快速過(guò)程中也能獲取高質(zhì)量數(shù)據(jù)；寬連續(xù)譜（白光）則為后續(xù)的單色化提供了廣闊的“原料”范圍，使得在任意元素吸收邊進(jìn)行測(cè)量成為可能。這是實(shí)驗(yàn)...

X射線吸收譜儀的同步輻射光源與單色化技術(shù)

X射線吸收譜是解析材料原子局部結(jié)構(gòu)與電子性質(zhì)的強(qiáng)大工具，而其測(cè)量性能的核心保障，正是來(lái)自同步輻射光源與精密的單色化技術(shù)。一、同步輻射光源：理想的高亮度X射線源與傳統(tǒng)X射線管相比，同步輻射光源為X射線吸收譜測(cè)量提供了的優(yōu)勢(shì)：高亮度：同步輻射產(chǎn)生的X射線強(qiáng)度比實(shí)驗(yàn)室X光管高出數(shù)十億倍，這使得測(cè)量稀薄樣品（如溶液、薄膜、低濃度摻雜材料）和獲取高質(zhì)量數(shù)據(jù)成為可能。寬連續(xù)譜：同步輻射提供從紅外到硬X射線的連續(xù)波長(zhǎng)覆蓋，允許用戶自由選擇特定元素的吸收邊能量進(jìn)行精確測(cè)量。高準(zhǔn)直性：產(chǎn)生的X...

揭秘物質(zhì)的局部結(jié)構(gòu)：X射線吸收譜儀（XAS）技術(shù)簡(jiǎn)介

X射線吸收譜儀（XAS）是一種基于同步輻射光源的先進(jìn)光譜技術(shù)，通過(guò)分析X射線與物質(zhì)相互作用后的信號(hào)變化，揭示材料的元素組成、電子態(tài)及微觀結(jié)構(gòu)信息。其核心在于利用X射線激發(fā)原子內(nèi)層電子，通過(guò)檢測(cè)電子躍遷產(chǎn)生的熒光或俄歇電子信號(hào)，獲取物質(zhì)局域結(jié)構(gòu)的“指紋”信息。技術(shù)原理：電子躍遷的“顯微鏡”當(dāng)X射線能量達(dá)到原子內(nèi)層電子的電離閾值時(shí)，會(huì)引發(fā)電子躍遷，形成吸收邊。根據(jù)能量范圍不同，XAS分為兩個(gè)關(guān)鍵區(qū)域：X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)（XANES）：吸收邊10eV至后50eV，反映電子態(tài)和化學(xué)環(huán)...

X射線吸收譜（XAS）基本原理：從EXAFS到XANES的物理機(jī)制

X射線吸收譜（XAS）通過(guò)測(cè)量物質(zhì)對(duì)X射線的吸收特性，揭示原子局域電子態(tài)及幾何結(jié)構(gòu)信息，其核心由擴(kuò)展X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（EXAFS）和X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)（XANES）兩部分組成，二者的物理機(jī)制均源于X射線激發(fā)內(nèi)層電子后光電子波與近鄰原子的散射干涉效應(yīng)，但能量范圍與散射路徑的差異導(dǎo)致其反映的結(jié)構(gòu)信息各有側(cè)重。EXAFS的物理機(jī)制EXAFS觀測(cè)吸收邊高能側(cè)30-1000eV范圍的振蕩信號(hào)，其根源是光電子的單次散射效應(yīng)。當(dāng)X射線能量超過(guò)內(nèi)層電子電離能時(shí)，原子吸收光子并激發(fā)內(nèi)層電子為...

電化學(xué)原位XAFS反應(yīng)池的模塊化設(shè)計(jì)原理

電化學(xué)原位XAFS反應(yīng)池的模塊化設(shè)計(jì)以提升實(shí)驗(yàn)靈活性、數(shù)據(jù)可靠性及操作便捷性為核心，通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化功能單元實(shí)現(xiàn)多場(chǎng)景適配與性能優(yōu)化，其設(shè)計(jì)原理主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：1.功能模塊拆分與標(biāo)準(zhǔn)化接口設(shè)計(jì)反應(yīng)池被拆分為光學(xué)模塊、電化學(xué)模塊、流體控制模塊及環(huán)境控制模塊，各模塊通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化接口（如螺紋、卡扣）實(shí)現(xiàn)快速組裝與替換。例如：光學(xué)模塊：采用可拆卸的Kapton膜或石英窗，支持透射/熒光雙模式切換，窗體厚度與材質(zhì)根據(jù)X射線能量范圍（如2.5-20keV）定制，減少信號(hào)衰減。電化學(xué)模塊：...

臺(tái)式XAFS其有著怎樣的功能呢？

臺(tái)式XAFS是一種無(wú)需依賴同步輻射光源，即可在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中實(shí)現(xiàn)高精度X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)測(cè)量的分析設(shè)備。它通過(guò)X射線單色器設(shè)計(jì)或羅蘭圓結(jié)構(gòu)，將X射線能量聚焦至特定范圍（通常為4.5-25keV），結(jié)合透射或熒光檢測(cè)模式，獲取材料中特定元素的局域原子結(jié)構(gòu)、電子態(tài)及配位環(huán)境信息。臺(tái)式XAFS的主要功能包括以下幾個(gè)方面：1、材料結(jié)構(gòu)分析功能局域原子結(jié)構(gòu)表征：能夠確定吸收原子周圍局部環(huán)境的配位數(shù)、鍵長(zhǎng)、鍵角等結(jié)構(gòu)參數(shù)，提供原子尺度上的結(jié)構(gòu)信息，對(duì)于研究非晶材料、納米材料、催化劑等短...